搜索历史
ES622系列TLP脉冲IV曲线系统 HBM/MM/Latch-up测试机 ESD/CDM/Latch-UP抗静电能力测试系统
ES620TLP传输线脉冲测试系统报价
TLP传输线脉冲测试系统是一款便携式脉冲IV-曲线特性表征系统,用于模拟静电放电脉冲事件,例如TLP,vf-TLP,HMM,HBM,EFT和低压浪涌。系统会检测脉冲期间皮秒或纳秒级的瞬态电压和电流波形,并测试脉冲前、后被测器件的状态(漏电流,击穿电压,偏置电流,静态IV曲线等),可测的DUT包括静电防护器件,半导体,电路模块,触摸板传感器等。 参考价面议ESD静电和闩锁测试系统报价
ES660 静电放电和闩锁测试系统是一款多针自动测试设备,旨在满足现代半导体测试的严格要求。这款多功能设备旨在无缝支持人体模型 (HBM)、机器模型 (MM) 和闩锁测试,为评估集成电路 (IC) 和电子元件的可靠性和稳健性提供全面的解决方案。ES660-P1 配置支持多达1280个引脚, 非常适合测试具有大量连接的复杂 IC 和电子元件。从而缩短测试时间并提高生产率。 参考价面议CDM充电器件模型测试仪报价
ES640充电器件模型(CDM)测试系统,充电器件模型(CDM)静电放电是微电子电路故障的常见原因。较低电压下的CDM放电会严重损坏或损毁灵敏设备。当带静电的设备以不同的电位接触金属表面时,通常会发生这种情况。这种静电放电通常具有非常快的上升时间。 参考价面议SmartZap静电枪自动测试系统报价
SmartZap自动化静电枪测试系统是一款具有自动故障检测功能的全自动静电枪测试仪,其性能远优于手动静电测试。 符合IEC61000-4-2测试标准。 参考价面议SmartScan-350-ESD近场测试扫描仪报价
ESD抗扰度扫描测试系统SmartScan-350/550 ESD扫描测试系统是一款专门设计的静电敏感度扫描系统。来自(TLP)脉冲源的宽带脉冲被传送到电场或磁场探头。生成的场与DUT或PCB板上的组件或线路耦合,并导致故障。或者可以通过直接注入探头直接注入脉冲。扫描系统主要再现了IEC 61000-4-2试验失效类型,包括软失效和硬失效。 参考价面议静电放电发生器报价
ES613是一款静电放电模拟器,有许多高级功能,包括可更换RC网络模块,可更换上升时间放电头,放电次数计数以及远程控制。该产品符合IEC61000-4-2和ISO 10605标准。双极性测试等级可达20 kV或30 kV。 参考价面议ES620TLP传输线脉冲测试系统多少钱
TLP传输线脉冲测试系统是一款便携式脉冲IV-曲线特性表征系统,用于模拟静电放电脉冲事件,例如TLP,vf-TLP,HMM,HBM,EFT和低压浪涌。系统会检测脉冲期间皮秒或纳秒级的瞬态电压和电流波形,并测试脉冲前、后被测器件的状态(漏电流,击穿电压,偏置电流,静态IV曲线等),可测的DUT包括静电防护器件,半导体,电路模块,触摸板传感器等。 参考价面议ESD静电和闩锁测试系统哪家好
ES660 静电放电和闩锁测试系统是一款多针自动测试设备,旨在满足现代半导体测试的严格要求。这款多功能设备旨在无缝支持人体模型 (HBM)、机器模型 (MM) 和闩锁测试,为评估集成电路 (IC) 和电子元件的可靠性和稳健性提供全面的解决方案。ES660-P1 配置支持多达1280个引脚, 非常适合测试具有大量连接的复杂 IC 和电子元件。从而缩短测试时间并提高生产率。 参考价面议CDM充电器件模型测试仪多少钱
ES640充电器件模型(CDM)测试系统,充电器件模型(CDM)静电放电是微电子电路故障的常见原因。较低电压下的CDM放电会严重损坏或损毁灵敏设备。当带静电的设备以不同的电位接触金属表面时,通常会发生这种情况。这种静电放电通常具有非常快的上升时间。 参考价面议SmartZap静电枪自动测试系统多少钱
SmartZap自动化静电枪测试系统是一款具有自动故障检测功能的全自动静电枪测试仪,其性能远优于手动静电测试。 符合IEC61000-4-2测试标准。 参考价面议SmartScan-350-ESD近场测试扫描仪多少钱
ESD抗扰度扫描测试系统SmartScan-350/550 ESD扫描测试系统是一款专门设计的静电敏感度扫描系统。来自(TLP)脉冲源的宽带脉冲被传送到电场或磁场探头。生成的场与DUT或PCB板上的组件或线路耦合,并导致故障。或者可以通过直接注入探头直接注入脉冲。扫描系统主要再现了IEC 61000-4-2试验失效类型,包括软失效和硬失效。 参考价面议静电放电发生器多少钱
ES613是一款静电放电模拟器,有许多高级功能,包括可更换RC网络模块,可更换上升时间放电头,放电次数计数以及远程控制。该产品符合IEC61000-4-2和ISO 10605标准。双极性测试等级可达20 kV或30 kV。 参考价面议