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岛津光谱仪的误差究竟是什么原因造成的?

来源:化工仪器网2022/7/7 20:00:52570
导读:
  岛津光谱仪的测量准确度很高,但测量的结果和实际上总有一些误差,那么岛津光谱仪的误差究竟是什么原因造成的?下面一起来了解一下吧!
 
岛津光谱仪 
  一、系统误差的来源:
       (1)标样和试样中的含量和化学组成不*相同时,可能引起基体线和分析线的强度改变,从而引入误差。
 
  (2)标样和试样的物理性能不*相同时,激发的特征谱线会有差别从而产生系统误差。
 
  (3)浇注状态的钢样与经过退火、淬火、回火、热轧、锻压状态的钢样金属组织结构不相同时,测出的数据会有所差别。
 
  (4)未知元素谱线的重叠干扰。如熔炼过程中加入脱氧剂、除硫磷剂时,混入未知合金元素而引入系统误差。
 
  (5)要消除系统误差,必须严格按照标准样品制备规定要求。为了检查系统误差,就需要采用化学分析方法分析多次校对结果。
 
  我们常见的光谱仪包括哪几个主要部分:
 
  一、入射狭缝: 在入射光的照射下形成光谱仪成像系统的物点。
 
  二、准直元件: 使狭缝发出的光线变为平行光。该准直元件可以是一独立的透镜、反射镜、或直接集成在色散元件上,如凹面光栅光谱仪中的凹面光栅。
 
  三、色散元件: 通常采用光栅,使光信号在空间上按波长分散成为多条光束。
 
  四、聚焦元件: 聚焦色散后的光束,使其在焦平面上形成一系列入射狭缝的像,其中每一像点对应于一特定波长。
 
  五、探测器阵列:放置于焦平面,用于测量各波长像点的光强度。该探测器阵列可以是CCD阵列或其它种类的光探测器阵列。

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