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Agilent 5110 同步垂直双向观测 (SVDV) ICP-OES 是测 量散装原料（填充剂、粘合剂及其他赋形剂）中元素杂 质的理想之选，并可用于口服制剂成品。这款仪器 专为测量挑战性的样品而设计，包括以下部件：

• 垂直炬管设计：检测范围更宽，只需极少的样品稀释 甚至无需样品稀释便可对复杂基质样品进行测试，总 溶解固体量高达 25% 的样品也能轻松应对

• Vista Chip II 检测器：具有宽波长覆盖范围的高速检 测器，能够在单次测量中测量 167–785 nm 的所有 波长，使用户能够选择无干扰的波长

• 快速分析。在不影响性能的前提下，安捷伦5110 ICP-OES同步垂 直双向观测 (SVDV) ICP-OES 每 24 小时可测量多 2500 个样品。5110 系统对于低产量及高产量实验室 均适用

• 可选择不同的背景校正技术：拟合背景校正 (FBC) 和 快速自动曲线拟合技术 (FACT)。FBC 可简化方法开 发并降低分析人员分析样品的复杂性。FACT 可校正 光谱干扰和复杂的背景结构

• 简便易用。直观的 Agilent ICP Expert 软件中附 带用于药物样品中元素杂质分析的预设方法（版 本 7.4 及更高版本）。该方法可满足 ICH-Q3D 和 USP<232>/<233> 的要求